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AI在測試領域:突破挑戰探索新方法.pdf

上傳人: 哆哆 編號:630955 2025-04-19 17頁 1.93MB

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本文主要探討了人工智能在半導體設計和制造領域的應用及其挑戰和解決方法。文中提到了AI在測試、系統質量、成本和差異化方面的作用,以及適應性測試、芯片匹配/已認證的硅封裝系統(cKGD)和系統分級的預測性燃燒測試等應用。同時,文章也指出了在復雜的分布式供應鏈中追蹤問題、從小數據中學習、跨工廠和設計學習以及平衡AI/ML和人類知識等挑戰。最后,文中列舉了幾個關鍵人物,包括PDF Solutions的Ming Zhang、Qualcomm的Michael Campbell、Cerebras Systems的Jean-Philippe Fricker和Intel的Aziz M. Safa等,他們在AI在半導體領域的應用和發展方面有著豐富的經驗和深厚的專業知識。
"AI如何改變半導體設計與制造?" "半導體行業中的AI挑戰與解決方案是什么?" "AI在半導體測試中的應用有哪些?"
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