三個皮匠報告
政策庫
new
付費
搜索
半導體檢測設備行業專題報告：晶圓制造環節檢測設備尚需技術積淀封測環節檢測設備國產化加速-210806（66頁）.pdf 報告預覽

半導體檢測設備行業專題報告：晶圓制造環節檢測設備尚需技術積淀封測環節檢測設備國產化加速-210806（66頁）.pdf

編號：48286 PDF 66頁 4.05MB 下載積分：VIP專享
下載報告請您先登錄！

半導體檢測設備行業專題報告：晶圓制造環節檢測設備尚需技術積淀封測環節檢測設備國產化加速-210806（66頁）.pdf

KLA：高研發投入+合作研發模式下龍頭地位穩固 持續高研發投入：公司自2012年研發投入占比維持在15%左右，多年技術研發沉淀鞏固公司龍頭地位。 與客戶共同研發：作為龍頭有更多的客戶資源和客戶端數據來進行不斷反饋和修正，通過客戶共同研發能否盡早發現先進工藝中可能存在的工藝缺陷，形成正循環。 產品更新速度快：從產品的迭代更新來看，KLA平均每年向市場新推出的新產品數量高達5-8件,并且能夠領先競爭對手2代以上，2倍速的研發水平使得公司在最為前沿的市場領域少有競爭對手。以封測為界分為晶圓檢測(CP)和成品測試(FT) 以封測為界，檢測包括晶圓檢測(CP, Circuit Probing)和成品測試(FT, Final Test)：通過分析測試數據，能夠確定具體失效原因，并改進設計及生產、封測工藝，以提高良率及產品質量。無論是晶圓檢測或是成品檢測，要測試芯片的各項功能指標均須完成兩個步驟：一是將芯片的引腳與測試機的功能模塊連接起來，二是通過測試機對芯片施加輸入信號，并檢測輸出信號，判斷芯片功能和性能是否達到設計要求。 隨著集成電路技術不斷發展，芯片線寬尺寸不斷減小，制造工序逐漸復雜，對集成電路測試設備要求愈加提高，集成電路測試設備的制造需要綜合運用計算機、自動化、通信、電子和微電子等學科技術，具有技術含量高、設備價值高等特點。

友情提示

1、下載報告失敗解決辦法
2、PDF文件下載后，可能會被瀏覽器默認打開，此種情況可以點擊瀏覽器菜單，保存網頁到桌面，就可以正常下載了。
3、本站不支持迅雷下載，請使用電腦自帶的IE瀏覽器，或者360瀏覽器、谷歌瀏覽器下載即可。
4、本站報告下載后的文檔和圖紙-無水印,預覽文檔經過壓縮，下載后原文更清晰。

本文（半導體檢測設備行業專題報告：晶圓制造環節檢測設備尚需技術積淀封測環節檢測設備國產化加速-210806（66頁）.pdf）為本站 （X-iao） 主動上傳，三個皮匠報告文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理，對上載內容本身不做任何修改或編輯。 若此文所含內容侵犯了您的版權或隱私，請立即通知三個皮匠報告文庫（點擊聯系客服），我們立即給予刪除！

溫馨提示：如果因為網速或其他原因下載失敗請重新下載，重復下載不扣分。
相關報告
聯系我們
  • 0731-84720580
  • sgpjbg002
  • 工作日 9:30 - 18:00
關于我們
侵權處理
關于我們

三個皮匠報告專業的行業報告下載站，每日更新，歡迎大家關注！

copyright@2008-2013 長沙景略智創信息技術有限公司版權所有
網站備案/許可證號：湘B2-20190120

客服
商務合作
小程序
服務號
折疊
午夜网日韩中文字幕,日韩Av中文字幕久久,亚洲中文字幕在线一区二区,最新中文字幕在线视频网站