公司研發硅光晶圓測試系統。公司早在2018年就研制出高精度硅光芯片測試系統并于2019年出貨，位置精度高達1um，主要應用半導體晶圓、通信用光電芯片的檢測。該硅光晶圓測試系統通過光纖列針、電子探針等方式測試硅光晶圓的光波導傳輸損耗、光電調制器調制性能、光電探測器光電響應性能等特性以衡量其品質，主要用戶為硅光芯片和光通信模組供應商。