1、 by Huasui all rights reserved.基于系統工程的測試體系構建Test Solution Provider Based on MBSE構建基于系統工程的測試測量一站式解決方案讓T/R組件測試可以黑燈 by Huasui all rights reserved.基于系統工程的測試體系構建Test Solution Provider Based on MBSE目錄01.行業。
2、Testing Cutting-Edge RF Technology by State-of-art VSTCaiyun ChenChina AE managerSEBUAgendaCustomer Needs And ChallengesBenefits And Features Of The NI Solution Overview Of The Newest VST:PXIe-5842 R。
3、高性能DC測試:NI PXI源測量單元及其應用莫映亮系統工程部高級經理NI中國創新發展中心DC Measurement Challenges Various Applications Require High-Performance DC Measurement Materials ResearchMeasurement Wafer-Level Parametric MeasurementSem。
4、借助NI測試案加速ADAS/動駕駛開發迭代徐磊lei-Senior Solutions EngineerAgenda1234市場動態和技術趨勢分享NI測試方案 數據采集方案介紹 HIL方案介紹 數據回灌方案介紹 智能攝像頭測試關鍵技術 壓縮 RDMA 逆ISP技術趨勢暢想 集群測試1 ADAS 市場趨勢OEM(需求)Tier1(系統)Tier2(模塊)Tier N(組件)計算平臺供應商AI算法/。
5、NI is now part of Emerson.NI is now part of Emerson.NI is now part of Emerson.未來駕駛:軟件定義汽(SDV)的測試命王暉NI汽車事業部系統研發工程師軟件定義汽 未來已來自動化安全環保高效質量要求復雜性預算 時間表軟件軟件定義汽 驅動因素、價值和意義 軟件為汽車帶來新的附加值,加速整個汽車價值鏈轉移BY 2030100%。
6、NI新一代射頻測試機介紹與應用分享Business Manager 孫冶INTERNAL-NI CONFIDENTIALNI CUSTOMER CONFIDENTIALOnly NI Provides IC Testing Solutions from Lab to ProductionValidation&CharacterizationProduction speed&den。
7、固勢科技車規級半導體功率模塊測試解決方案聯系人徐朋:18512199807(微信同號)了解更多,歡迎電聯0101規半導體市場前瞻規半導體市場前瞻0202規級半導體功率模塊規級半導體功率模塊測試規范梳理測試規范梳理0303系統詳述系統詳述0404NI+NI+固勢技術創新固勢技術創新ContentsContents車規級半導體市場前瞻01功率半導體?整流交流電轉換為直流電增幅增大電信號開關信號導通或。
8、車聯網與車路協同一體化測試系統屠方澤 上海眾執芯信息科技有限公司聚焦于智能網聯仿真與測試系統設計與開發;專精特新、高新企業公司骨干來自中科院、NI等單位,核心團隊成員平均具有10年以上的測試測量行業經驗,參加多個國內外大型企業的測試平臺的設計與開發;、車聯網方向專著三部5G仿真與評估方法、Metrology for 5G and Emerging Wireless Technologies、從L。
9、LabVIEW新特性匯總及開發技巧分享2024/11/12議程 LabVIEW新特性匯總 2015-2021版本新特性 2022版本及以后新特性 LabVIEW開發技巧分享LabVIEWLaboratory Virtual Instrument Engineering WorkbenchLabVIEW新特性分類易用性服務、環境、程序框圖的改進新增和改動的VI和函數新增和改動的屬性、方法和事件掃碼。
10、基于PXI平臺的光電子應用測試方案李成2024年11月目錄高性能運算及數據中心對傳輸帶寬的需求以及光電子解決方案NI公司的有源光電子器件及硅光直流測試基于PXI平臺的光電混合板卡測試方案問與答高性能運算及數據中心對傳輸帶寬的需求以及光電子解決方案E2O和O2E傳統的數據中心:數據中心是用來存放關鍵應用程序和數據的物理設施。數據中心的設計基于計算和存儲資源網絡,這些資源可以實現共享應用程序和數據的。
11、AI輔助的芯片硅后驗證實踐駱劼行孤波科技 產品經理2024年11月12日對硅后驗證不夠重視,沒有專職團隊缺乏標準化的驗證方法論缺乏可靠、穩定、高質量的驗證流程缺乏好的軟件系統工具保證國內設計公司的挑戰芯片驗證的重要性硅后測試驗證效率尤其是痛點!芯片驗證是高質量芯片開發流程中不可或缺的一環。它確保了芯片設計滿足既定的性能和功能要求,降低了設計缺陷帶來的風險。在復雜的芯片設計中,驗證環節的作用愈發顯。
12、可通訊狀態機框架可通訊狀態機框架(Communicable State Machine-CSM)Yao Li CHT Principal Application Engineer,ADG內容概要本分享將主要介紹一種新的LabVIEW 編程框架-可通訊狀態機框架(Communicable State Machine-CSM)及其應用項目案例.通過CSM與常見程序框架的設計邏輯比較,說明高復用的程序。
13、NI Datalink Test Framework and Application Market Trend NI Datalink ApplicationAgendaMarket TrendSpace Industry ChallengesMarket ChallengesIncreased cost pressureIncreasing market competitors and inv。
14、 NI 系統聯盟商解決案簡介 通信感知體化-Integrated Sensing and Communication 智能反射-Reconfigurable Intelligent Surface OAI-Open Air Interface 太赫茲-Tera Hertz 信道測量-Channel Sounding 信道仿真-Channel Emulator 衛星遙測遙控-Telemetry a。
15、科技無限服務創新新環境下企業需要的數據采集測試方案宋軍龍2024-11-1201http:/ DONG FANG ZHONGKEYIN DU BUILDING 12TH FLOOR NO 67 FU CHENG ROAD,BEIJING,HAI DIAN DISTRICT,CHINA北京東方中科集成科技股份有限公司(簡稱:東方中科)是中國科學院控股有限公司旗下東方科儀控股集團有限公司的控股子公司。
16、INTERNAL-NI CONFIDENTIAL1故事的開始故事的開始20世紀70年代初,詹姆斯楚查德博士、比爾諾林和杰夫科多斯基三個年輕人在得克薩斯州大學奧斯汀分校的應用研究實驗室中工作。他們使用了早期的計算機技術來收集和分析數據,因為對于低效的數據收集方法感到十分沮喪,于是這三個年輕人決定創造一種新產品。它始于一個大膽而簡單的想法 將測試儀器連接到計算機 技術和測量技術的方式將永遠改變。幾十。
17、1 陳亮 HAL/MAL低代碼自動化測試系統 內容 公司介紹 為什么需要基于HAL/MAL的測試軟件框架 硬件抽象層 HAL介紹 測量抽象層 MAL介紹 HAL/MAL低代碼自動化測試系統總體介紹 內容 公司介紹 為什么需要基于HAL/MAL的測試軟件框架 硬件抽象層 HAL介紹 測量抽象層 MAL介紹 HAL/MAL低代碼自動化測試系統總體介紹 公司簡介 2015年成立,位于古城西安高新區,洛。
18、內部資料 禁止外傳高功率射頻器件測試技術徐佩2024年11月南京派格測控科技有限公司010203目 錄04基站PA 濾波器手機Tuner公司介紹基站PA芯片測試內部資料 禁止外傳PGT-X200系列大功率射頻芯片測試機 輸出功率45dBm 輸入功率60dBm 基站PA常見測項 小信號增益 飽和功率 ACPR Vth/Vgsq 諧波 PAEPGT-XGaN PA45dBm60dBm15dB Gai。
19、寬寬禁帶帶半導導體(SiC)動動態態可靠性測試測試的挑戰戰NI 大客戶經理 楊堃議程功率半導體的趨勢SiC可靠性動態柵極應力測試動態高溫高濕反偏測試NI動態可靠性測試方案功率半導體的趨勢功率半導體和綠色能源交通出行,電梯,空調離不開功率半導體使用清潔能源,同時減少能源損耗電動汽車產業重新定義了功率半導體行業尋求更高的能源使用效率在過去的40年里,硅基晶體管和IGBT得到廣泛的應用今天的應用,如熱。
20、從毫米波雷達測試到域控測試,構建完善的ADAS測試解決方案演講人:總經理 鄭凱目錄一、公司介紹二、ADAS傳感器測試三、TSN交換機四、感知融合及數據注入五、為量產提供完整解決方案公司介紹公司成立于2015年,總部位于蘇州,在西安、合肥設有辦事處為汽車毫米波雷達、超聲波雷達、激光雷達、攝像頭、車聯網單元、ADAS DCU提供系統級的測試解決方案從物理信號仿真,硬線信號仿真和測試,再到車載以太網及。
21、NI射頻與無線平臺新產品介紹和應用分享NI RF&Wireless Product Growth ManagerHang CaoResearch Labon NI PlatformA Flexible Platform for Next Generation Wireless Research and PrototypingCPUGPPFPGADSPVCOPLLPLLD/AD/AA/DA。
22、Empower Future Test Engineer-淺談集成電路教研融合劉晉東CMO&CPO北京曾益慧創科技有限公司北京曾益慧創科技有限公司成立于2017年,深耕半導體、通信、控制、測試測量等交叉領域,提供自主研發、安全可控的新興技術產品和技術服務,同時致力于引領本科工程教育和現代職業教育改革解決方案的研發,是一家專注于“產教融合和科教融匯“的高新技術企業??偛课挥诒本┲嘘P村,同時。
23、高速ADC(JESD204B)測試方案陳勇JESD204B 歷史TTL/CMOSLVDSJESD204JESD204AJESD204BJESD204C信號類型單端差分差分差分差分差分年份198020012006200820112017速率1xxMbps12Gbps3.125Gbps3.125Gbps12.5Gbps32.5Gbps功耗(高采樣率)高低低低低低JESD204JESD204AJESD。
24、ConfidentialDV Technology reserves all rights even in the event of industrial property rights.We reserve all rights of disposal such as copying and passing on to third parties.基于NI PXI平臺的整車級HIL仿真測試系統。
25、INTERNAL-NI CONFIDENTIALLabVIEW+與Python等多語言跨平臺編程融合實踐Hybrid Programming and Across Platform with LabVIEW+Suit Practice周曉霜NI 技術支持部門AgendaAgenda12345Introduction of LabVIEW+Suit IntegrationLabVIEW Integ。