在保證紅外探測器性能的前提下提高探測器組件的工作溫度，可以使紅外系統具有小尺寸、低功耗、低成本、高靈敏度和高響應速度等優點，是目前新一代紅外焦平面探測器技術的重要發展方向之一。昆明物理研究所對中波紅外碲鎘汞 15μm640×512 焦平面組件在不同工作溫度下制冷機的穩態功耗測試結果及制冷到相應工作溫度所需的制冷時間對比，發現隨探測器組件工作溫度的提高，制冷機的功耗和降溫時間顯著下降。AIM 公司開發了 20μm 640×512 規格陣列中波紅外高溫工作探測器組件，在 220K 的工作溫度下探測器組件仍然具有較好的成像分辨率。