廣立微半導體數據系統應用場景 4)DataExp- DMS(簡稱 DE-DMS) 是缺陷數據管理與分析的解決方案,系統收集檢測機臺的缺陷數據及圖片,針對這些數據進行快速分析、分類,并結合 DE-YMS 良率分析系統查找缺陷形成的根本原因。 行業數據 下載Excel 下載圖片 原圖定位