AOI 的全稱是自動光學檢測，是基于光學原理來對制造生產中遇到的常見缺陷進行檢測的設備，廣泛應用于 PCB、顯示面板、半導體芯片等電子元器件領域。在半導體封測領域，AOI 光學檢測一般分為四道光檢，第一道光檢是晶圓檢測，第二道光檢是顆粒外觀缺陷檢測，第三道光檢貼片/引線鍵合檢測，第四道光檢是塑封外觀檢測。